KETT凯特 电磁膜测厚仪 LE-200J
日期:2021-05-17 人气:558 收藏
KETT凯特 电磁膜测厚仪 LE-200J
内置打印机的电磁膜测厚仪的顶级型号
测量范围0-1500μm
小于15μm的测量精度:±0.3μm,15μm或更高:±2%
数据存储1500点,统计计算功能
测量方式 | 电磁感应式 |
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测量目标 | 磁性金属上的非磁性涂层 |
测量范围 | 0-1500μm或60.00密耳 |
测量精度 | 小于15μm:±0.3μm,15μm或以上:±2% |
解析度 | 小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1.0μm |
符合标准 | JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401 / ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376 |
统计功能 | 测量次数,平均值,标准偏差,最大值,最小值,程序段号 |
探测 | 单点接触恒压型(LEP-J) |
显示方式 | 数字(LCD,最小显示位数0.1μm) |
外部输出 | RS-232C接口(传输速度2400bps) |
电源供应 | AC100V(50 / 60Hz)或电池1.5V(AA碱性)主机x 6,打印机x 4 |
尺寸/质量 | 120(W)x 250(D)x 55(H)毫米,1.0公斤 |
配件 | 标准板(10μm,50μm,100μm,350μm,800μm,1 mm,所有近似值,每个1张),铁底座,标准板盒,电池1.5 V(AA碱性),AC适配器,探头适配器,打印纸,手提箱 |
选项 | L型探头(LEP-21L),RS-232C连接电缆,数据管理软件“ Data Logger KDL-01”,“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Standard”,“ McWAVE Professional”,“ MultiProp” |